[IEEE 2002 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers - Honolulu, HI, USA (13-15 June 2002)] 2002 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37302) - Threshold-voltage balance for minimum supply operationOno, G.; Miyazaki, M. · 2002

[IEEE 2009 IEEE International Conference on Ultra-Wideband - Vancouver, BC, Canada (2009.09.9-2009.09.11)] 2009 IEEE International Conference on Ultra-Wideband - Fully integrated UWB-IR CMOS transceiver for wireless body area networksNakagawa, T.; Ono, G.; Fujiwara, R.; Norimatsu, T.; Terada, T.; Miyazaki, M. · 2009

[IEEE 2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS 2009 - Taipei, Taiwan (2009.05.24-2009.05.27)] 2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems - UWB-IR receiver with accurate time-interval-measurement circuit for communication/location systemNakagawa, T.; Fujiwara, R.; Ono, G.; Miyazaki, M. · 2009

productionMori, T.; Uehara, S.; Watanabe, Y.; Abe, K.; Abe, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Anipko, D.; Arinstein, K.; Aulchenko, V.; Bakich, A. M.; Barberio, E.; Bay, A.; Bedny, I.; Belous, K.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Brodzicka, J.; Browder, T. E.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chen, A.; Chen, W. T.; Cheon, B. G.; Chistov, R.; Choi, Y.; Choi, Y. K.; Dalseno, J.; Dash, M.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fratina, S.; Gabyshev, N.; Gershon, T.; Golob, B.; Ha, H.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heffernan, D.; Hokuue, T.; Hoshi, Y.; Hou, S.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Ikado, K.; Imoto, A.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Kaji, H.; Kang, J. H.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Khan, H. R.; Kibayashi, A.; Kichimi, H.; Kim, Y. J.; Korpar, S.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, M. J.; Lee, S. E.; Lesiak, T.; Limosani, A.; Lin, S.-W.; Liventsev, D.; MacNaughton, J.; Majumder, G.; Mandl, F.; Matsumoto, T.; Miyake, H.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Moloney, G. R.; Nagasaka, Y.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Noguchi, S.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S. L.; Ono, S.; Onuki, Y.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, H.; Park, K. S.; Peak, L. S.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Poluektov, A.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Satoyama, N.; Schietinger, T.; Schneider, O.; Seidl, R.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shibuya, H.; Shwartz, B.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Somov, A.; Soni, N.; Stanič, S.; Starič, M.; Stoeck, H.; Sumiyoshi, T.; Takasaki, F.; Tamai, K.; Tanaka, M.; Taylor, G. N.; Teramoto, Y.; Tian, X. C.; Tikhomirov, I.; Tsuboyama, T.; Tsukamoto, T.; Uglov, T.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Varner, G.; Villa, S.; Wang, C. C.; Wang, C. H.; Won, E.; Xie, Q. L.; Yabsley, B. D.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Zhang, C. C.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. · Physical Review D · 2007

High Statistics Measurement of the Cross Sections of γγ→π ⁺ π ^- ProductionMori, T.; Uehara, S.; Watanabe, Y.; Abe, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; M. Bakich, A.; Balagura, V.; Barberio, E.; Bay, A.; Belous, K.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Blyth, S.; Bondar, A.; Bračko, M.; E. Browder, T.; Chang, M.-C.; Chen, A.; T. Chen, W.; G. Cheon, B.; Cho, I.-S.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Dash, M.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Fratina, S.; Gabyshev, N.; Golob, B.; Ha, H.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heffernan, D.; Hokuue, T.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Iijima, T.; Ikado, K.; Imoto, A.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Kaji, H.; H. Kang, J.; Kapusta, P.; Katayama, N.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; O. Kim, H.; K. Kim, S.; J. Kim, Y.; Korpar, S.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kumar, R.; C. Kuo, C.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; J. Lee, M.; E. Lee, S.; Lesiak, T.; Li, J.; Limosani, A.; Lin, S.-W.; Liventsev, D.; MacNaughton, J.; Mandl, F.; Matsumoto, T.; Matyja, A.; McOnie, S.; Medvedeva, T.; Miyake, H.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; R. Moloney, G.; Nagasaka, Y.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Noguchi, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; L. Olsen, S.; Ono, S.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; W. Park, C.; Park, H.; S. Park, K.; Pestotnik, R.; E. Piilonen, L.; Poluektov, A.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Satoyama, N.; Schneider, O.; Schümann, J.; Senyo, K.; E. Sevior, M.; Shapkin, M.; P. Shen, C.; Shibuya, H.; Shwartz, B.; B. Singh, J.; Sokolov, A.; Somov, A.; Soni, N.; Stanič, S.; Starič, M.; Stoeck, H.; Sumiyoshi, T.; Y. Suzuki, S.; Takasaki, F.; Tamai, K.; Tanaka, M.; N. Taylor, G.; Teramoto, Y.; C. Tian, X.; Tikhomirov, I.; Tsuboyama, T.; Tsukamoto, T.; Ueno, K.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Varner, G.; Vervink, K.; Villa, S.; Vinokurova, A.; H. Wang, C.; Wang, P.; Won, E.; L. Xie, Q.; D. Yabsley, B.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; C. Zhang, C.; P. Zhang, Z.; Zhilich, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A. · Journal of the Physical Society of Japan · 2007