Fracture in Thin Oxide Films
Bahr, D. F.; Olson, A. L.; Morasch, K. R.; Kennedy, M. S.; Rodriguez Marek, D.; Alamr, A.
- 期刊名称MRS Proceedings
- 作者Bahr, D. F.; Olson, A. L.; Morasch, K. R.; Kennedy, M. S.; Rodriguez Marek, D.; Alamr, A.
- 卷第795卷
- 电子ISSN1946-4274
- 文件大小738.92KB
- 发表时间2003-1
- DOI10.1557/PROC-795-U3.1