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Surface stability of InGaN-channel based HFETs

Neuburger, M.; Daumiller, I.; Zimmermann, T.; Kunze, M.; Koley, G.; Spencer, M.G.; Dadgar, A.; Krtschil, A.; Krost, A.; Kohn, E.

期刊名称Electronics Letters
作者Neuburger, M.; Daumiller, I.; Zimmermann, T.; Kunze, M.; Koley, G.; Spencer, M.G.; Dadgar, A.; Krtschil, A.; Krost, A.; Kohn, E.
卷第39卷
期第22期
印刷ISSN0013-5194
文件大小106.02KB
发表时间2003
DOI10.1049/el:20030974