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Characterization of amorphous-Si/1ML-Ge/Si(001) Interface Structure by X-ray Standing Waves

S. Nakatani; K. Sumitani; A. Nojima; T. Takahashi; K. Hirano; S. Koh; T. Irisawa; Y. Shiraki

作者S. Nakatani; K. Sumitani; A. Nojima; T. Takahashi; K. Hirano; S. Koh; T. Irisawa; Y. Shiraki
文件大小123.03KB
发表时间2003
DOI10.1143/JJAP.42.7050