Muon diffusion and trapping in chalcopyrite semiconductors

• 作者R.C. Vilão; J.M. Gil; H.V. Alberto; J.Piroto Duarte; N.Ayres de Campos; A. Weidinger; M.V. Yakushev; S.F.J. Cox
• 卷第326卷
• 印刷ISSN0921-4526
• 文件大小99.87KB
• 发表时间2003
• DOI10.1016/s0921-4526(02)01598-3
• 页码181-184