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Test set embedding for deterministic BIST using a reconfigurable interconnection network

Test set embedding for deterministic BIST using a reconfigurable interconnection network

Lei Li; Chakrabarty, K.

作者Lei Li; Chakrabarty, K.
卷第23卷
期第9期
印刷ISSN0278-0070
电子ISSN1937-4151
文件大小891.43KB
发表时间2004
DOI10.1109/tcad.2004.831593

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