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Chip-scale atomic magnetometer

Schwindt, Peter D. D.; Knappe, Svenja; Shah, Vishal; Hollberg, Leo; Kitching, John; Liew, Li-Anne; Moreland, John

期刊名称Applied Physics Letters
作者Schwindt, Peter D. D.; Knappe, Svenja; Shah, Vishal; Hollberg, Leo; Kitching, John; Liew, Li-Anne; Moreland, John
卷第85卷
期第26期
印刷ISSN0003-6951
文件大小489.67KB
发表时间2004
DOI10.1063/1.1839274