Electron counting of single-electron tunneling current
Fujisawa, T.; Hayashi, T.; Hirayama, Y.; Cheong, H. D.; Jeong, Y. H.
- 期刊名称Applied Physics Letters
- 作者Fujisawa, T.; Hayashi, T.; Hirayama, Y.; Cheong, H. D.; Jeong, Y. H.
- 卷第84卷
- 期第13期
- 印刷ISSN0003-6951
- 文件大小480.67KB
- 发表时间2004
- DOI10.1063/1.1691491