RDDS lifetime measurement with JUROGAM + RITU
T. Grahn; A. Dewald; O. Möller; C. W. Beausang; S. Eeckhaudt; P. T. Greenlees; J. Jolie; P. Jones; R. Julin; S. Juutinen; H. Kettunen; T. Kröll; R. Krücken; M. Leino; A. -P. Leppänen; P. Maierbeck; D. A. Meyer; P. Nieminen; M. Nyman; J. Pakarinen; P. Petkov; P. Rahkila; B. Saha; C. Scholey; J. Uusitalo
- 作者T. Grahn; A. Dewald; O. Möller; C. W. Beausang; S. Eeckhaudt; P. T. Greenlees; J. Jolie; P. Jones; R. Julin; S. Juutinen; H. Kettunen; T. Kröll; R. Krücken; M. Leino; A. -P. Leppänen; P. Maierbeck; D. A. Meyer; P. Nieminen; M. Nyman; J. Pakarinen; P. Petkov; P. Rahkila; B. Saha; C. Scholey; J. Uusitalo
- 卷第25卷
- 印刷ISSN1434-6001
- 电子ISSN1434-601X
- 文件大小200.64KB
- 发表时间2005-09
- DOI10.1140/epjad/i2005-06-024-2
- 页码441-442