Depth-resolved whole-field displacement measurement by wavelength-scanning electronic speckle pattern interferometry

• 期刊名称ao/44/19/ao-44-19-3945.pdf
• 作者Ruiz, Pablo D.; Huntley, Jonathan M.; Wildman, Ricky D.
• 卷第44卷
• 期第19期
• 印刷ISSN0003-6935
• 电子ISSN1539-4522
• 文件大小1153.39KB
• 发表时间2005
• DOI10.1364/AO.44.003945