Reduced influence of defects on oxidized Si nanocrystallites
Ramos, L. E.; Furthmüller, J.; Bechstedt, F.
- 期刊名称Physical Review B
- 作者Ramos, L. E.; Furthmüller, J.; Bechstedt, F.
- 卷第71卷
- 期第3期
- 印刷ISSN1098-0121
- 电子ISSN1550-235X
- 文件大小1244.21KB
- 发表时间2005-1-20
- DOI10.1103/physrevb.71.035328