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Farrell, P.A.; Hong Ong,
期刊名称
IEEE Design and Test of Computers
作者
Farrell, P.A.; Hong Ong,
卷
第22卷
期
第2期
印刷ISSN
0740-7475
文件大小
34.76KB
发表时间
2005-02
DOI
10.1109/mdt.2005.32
页码
190-190
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