Electrode dependence of resistance switching in polycrystalline NiO films

Seo, S.; Lee, M. J.; Kim, D. C.; Ahn, S. E.; Park, B.-H; Kim, Y. S.; Yoo, I. K.; Byun, I. S.; Hwang, I. R.; Kim, S. H.; Kim, J.-S.; Choi, J. S.; Lee, J. H.; Jeon, S. H.; Hong, S. H.; Park, B. H.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Seo, S.; Lee, M. J.; Kim, D. C.; Ahn, S. E.; Park, B.-H; Kim, Y. S.; Yoo, I. K.; Byun, I. S.; Hwang, I. R.; Kim, S. H.; Kim, J.-S.; Choi, J. S.; Lee, J. H.; Jeon, S. H.; Hong, S. H.; Park, B. H.
卷第87卷
期第26期
印刷ISSN0003-6951
文件大小324.46KB
发表时间2005
DOI10.1063/1.2150580

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Electrode dependence of resistance switching in polycrystalline NiO films