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Total System Reliability: Integrated Model for Growth and Test Termination

Total System Reliability: Integrated Model for Growth and Test Termination

John Donovan; Eamonn Murphy
  • 作者John Donovan; Eamonn Murphy
  • 卷第21卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0748-8017
  • 电子ISSN1099-1638
  • 文件大小214.96KB
  • 发表时间2005
  • DOI10.1002/qre.646
  • 页码329-344
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