发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Comparative analysis of accelerated ageing effects on power RF LDMOS reliability

Comparative analysis of accelerated ageing effects on power RF LDMOS reliability

M.A. Belaïd; K. Ketata; K. Mourgues; H. Maanane; M. Masmoudi; J. Marcon

作者M.A. Belaïd; K. Ketata; K. Mourgues; H. Maanane; M. Masmoudi; J. Marcon
卷第45卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小410.09KB
发表时间2005
DOI10.1016/j.microrel.2005.07.099
页码1732-1737

← 返回【学霸图书馆】主页