Multiple-surface testing by a wavelength-scanning interferometer for refractive index inhomogeneity measurement
- 作者K. Hibino; J. Burke; R. Hanayama; B. F. Oreb
- 卷第101卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0030-400X
- 电子ISSN1562-6911
- 文件大小226.66KB
- 发表时间2006-07
- DOI10.1134/s0030400x06070046
- 页码18-22