Temperature Dependences of the Resistivity and the Ferromagnetic Resonance Linewidth in Permalloy Thin Films

• 作者Counil, G.; Devolder, T.; Kim, J.-V.; Crozat, P.; Chappert, C.; Zoll, S.; Fournel, R.
• 卷第42卷
• 期第10期
• 印刷ISSN0018-9464
• 电子ISSN1941-0069
• 文件大小226.93KB
• 发表时间2006
• DOI10.1109/tmag.2006.879718
• 页码3323-3325