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Failure prediction with self organizing maps

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Johan Huysmans; Bart Baesens; Jan Vanthienen; Tony van Gestel

作者Johan Huysmans; Bart Baesens; Jan Vanthienen; Tony van Gestel
卷第30卷
期第3期
印刷ISSN0957-4174
文件大小299.99KB
发表时间2006
DOI10.1016/j.eswa.2005.10.005
页码479-487

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