Leakage current in Ti/4H-SiC Schottky barrier diode

• 作者K. Ohtsuka; Y. Matsuno; K. Kuroda; H. Sugimoto; Y. Tarui; M. Imaizumi; T. Takami
• 印刷ISSN0921-4526
• 文件大小143.42KB
• 发表时间2006
• DOI10.1016/j.physb.2005.12.096
• 页码370-373