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Single cylinder in situ scanning electron microscope fatigue system

Single cylinder in situ scanning electron microscope fatigue system

Smiltneek, Larry; Shinde, Sachin R.; Hoeppner, David W.
  • 期刊名称Review of Scientific Instruments
  • 作者Smiltneek, Larry; Shinde, Sachin R.; Hoeppner, David W.
  • 卷第77卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN0034-6748
  • 文件大小423.81KB
  • 发表时间2006
  • DOI10.1063/1.2163809
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