Extensions of molecular ruler technology for nanoscale patterning
C. Srinivasan; M. E. Anderson; E. M. Carter; J. N. Hohman; S. S. N. Bharadwaja; S. Trolier-mckinstry; P. S. Weiss; M. W. Horn
- 作者C. Srinivasan; M. E. Anderson; E. M. Carter; J. N. Hohman; S. S. N. Bharadwaja; S. Trolier-mckinstry; P. S. Weiss; M. W. Horn
- 文件大小978.05KB
- 发表时间2006
- DOI10.1116/1.2393252