A Gated Clock Scheme for Low Power Testing of Logic Cores

• 作者Yannick Bonhomme; Patrick Girard; Loïs Guiller; Christian Landrault; Serge Pravossoudovitch; Arnaud Virazel
• 卷第22卷
• 期第1期
• 印刷ISSN0923-8174
• 电子ISSN1573-0727
• 文件大小288.72KB
• 发表时间2006-02
• DOI10.1007/s10836-006-6259-1
• 页码89-99