Defect detection in multilayer ceramic capacitors
V. Krieger; W. Wondrak; A. Dehbi; W. Bartel; Y. Ousten; B. Levrier
- 作者V. Krieger; W. Wondrak; A. Dehbi; W. Bartel; Y. Ousten; B. Levrier
- 卷第46卷
- 印刷ISSN0026-2714
- 文件大小20329.99KB
- 发表时间2006
- DOI10.1016/j.microrel.2006.07.082
- 页码1926-1931