Fault Current Limitation Characteristics of Bi-2212 Bulk Coil With Different Types of Shunt Coils

Sim, J.; Lee, H.G.; Yim, S-W.; Inji Choi, ; Kim, H-R.; Hyun, O-B.; Kim, H.M.; Park, K.B.; Lee, B.W.; Oh, I.S.; Breuer, F.; Bock, J.

期刊名称IEEE Transactions on Applied Superconductivity
作者Sim, J.; Lee, H.G.; Yim, S-W.; Inji Choi, ; Kim, H-R.; Hyun, O-B.; Kim, H.M.; Park, K.B.; Lee, B.W.; Oh, I.S.; Breuer, F.; Bock, J.
卷第17卷
期第2期
印刷ISSN1051-8223
文件大小906.84KB
发表时间2007-06
DOI10.1109/TASC.2007.899207
页码1879-1882

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