Polymer Viscoelasticity and Residual Stress Effects on Nanoimprint Lithography
- 作者Y. Ding; H. W. Ro; J. F. Douglas; R. L. Jones; D. R. Hine; A. Karim; C. L. Soles
- 卷第19卷
- 期第10期
- 印刷ISSN0935-9648
- 电子ISSN1521-4095
- 文件大小142.14KB
- 发表时间2007
- DOI10.1002/adma.200601998
- 页码1377-1382
branching fraction to φπBai, J. Z.; Bardon, O.; Blum, I.; Breakstone, A.; Burnett, T.; Chen, G. P.; Chen, H. F.; Chen, J.; Chen, S. J.; Chen, S. M.; Chen, Y.; Chen, Y. B.; Chen, Y. Q.; Cheng, B. S.; Cowan, R. F.; Cui, H. C.; Cui, X. Z.; Ding, H. L.; Du, Z. Z.; Dunwoodie, W.; Fan, X. L.; Fang, J.; Fero, M.; Gao, C. S.; Gao, M. L.; Gao, S. Q.; Gao, W. X.; Gratton, P.; Gu, J. H.; Gu, S. D.; Gu, W. X.; Gu, Y. F.; Guo, Y. N.; Han, S. W.; Han, Y.; Harris, F. A.; Hatanaka, M.; He, J.; He, K. R.; He, M.; Hitlin, D. G.; Hu, G. Y.; Hu, H. B.; Hu, T.; Hu, X. Q.; Huang, D. Q.; Huang, Y. Z.; Izen, J. M.; Jia, Q. P.; Jiang, C. H.; Jin, Y.; Jones, L.; Kang, S. H.; Kelsey, M. H.; Kim, B. K.; Lai, Y. F.; Lan, H. B.; Lang, P. F.; Lankford, A.; Li, F.; Li, J.; Li, P. Q.; Li, Q.; Li, R. B.; Li, W.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X.; Li, X. N.; Lin, S. Z.; Liu, H. M.; Liu, J. H.; Liu, Q.; Liu, R. G.; Liu, Y.; Liu, Z. A.; Lou, X. C.; Lowery, B.; Lu, J. G.; Ma, A. M.; Ma, E. C.; Ma, J. M.; Mao, H. S.; Mao, Z. P.; Malchow, R.; Mandelkern, M.; Meng, X. C.; Ni, H. L.; Nie, J.; Olsen, S. L.; Oyang, J.; Paluselli, D.; Pan, L. J.; Panetta, J.; Porter, F.; Prabhakar, E.; Qi, N. D.; Que, Y. K.; Quigley, J.; Rong, G.; Schernau, M.; Schmid, B.; Schultz, J.; Shao, Y. Y.; Shen, D. L.; Shen, H.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, H. Z.; Shi, X. R.; Smith, A.; Soderstrom, E.; Song, X. F.; Standifird, J.; Stoker, D.; Sun, F.; Sun, H. S.; Sun, S. J.; Synodinos, J.; Tan, Y. P.; Tang, S. Q.; Toki, W.; Tong, G. L.; Torrence, E.; Wang, F.; Wang, L. S.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, P.; Wang, P. L.; Wang, S. M.; Wang, T. J.; Wang, W.; Wang, Y. Y.; Whittaker, S.; Wilson, R.; Wisniewski, W. J.; Xi, D. M.; Xia, X. M.; Xie, P. P.; Xu, D. Z.; Xu, R. S.; Xu, Z. Q.; Xue, S. T.; Yamamoto, R.; Yan, J.; Yan, W. G.; Yang, C. M.; Yang, C. Y.; Yang, W.; Yao, H. B.; Ye, M. H.; Ye, S. Z.; Yu, C. S.; Yu, C. X.; Yu, Z. Q.; Yuan, C. Z.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, H. L.; Zhang, J.; Zhang, J. W.; Zhang, L. S.; Zhang, S. Q.; Zhang, Y.; Zha · Physical Review D · 1995
Direct Measurement of the Pseudoscalar Decay Constant,Bai, J. Z.; Bardon, O.; Blum, I.; Breakstone, A.; Burnett, T.; Chen, G. P.; Chen, H. F.; Chen, J.; Chen, S. J.; Chen, S. M.; Chen, Y.; Chen, Y. B.; Chen, Y. Q.; Cheng, B. S.; Cowan, R. F.; Cui, H. C.; Cui, X. Z.; Ding, H. L.; Du, Z. Z.; Dunwoodie, W.; Fan, X. L.; Fang, J.; Fero, M.; Gao, C. S.; Gao, M. L.; Gao, S. Q.; Gao, W. X.; Gratton, P.; Gu, J. H.; Gu, S. D.; Gu, W. X.; Gu, Y. F.; Guo, Y. N.; Han, S. W.; Han, Y.; Harris, F. A.; Hatanaka, M.; He, J.; He, K. R.; He, M.; Hitlin, D. G.; Hu, G. Y.; Hu, H. B.; Hu, T.; Hu, X. Q.; Huang, D. Q.; Huang, Y. Z.; Izen, J. M.; Jia, Q. P.; Jiang, C. H.; Jin, Y.; Jones, L.; Kang, S. H.; Kelsey, M. H.; Kim, B. K.; Lai, Y. F.; Lan, H. B.; Lang, P. F.; Lankford, A.; Li, F.; Li, J.; Li, P. Q.; Li, Q.; Li, R. B.; Li, W.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X.; Li, X. N.; Lin, S. Z.; Liu, H. M.; Liu, J. H.; Liu, Q.; Liu, R. G.; Liu, Y.; Liu, Z. A.; Lou, X. C.; Lowery, B.; Lu, J. G.; Ma, A. M.; Ma, E. C.; Ma, J. M.; Mao, H. S.; Mao, Z. P.; Malchow, R.; Mandelkern, M.; Meng, X. C.; Ni, H. L.; Nie, J.; Olsen, S. L.; Oyang, J.; Paluselli, D.; Pan, L. J.; Panetta, J.; Porter, F.; Prabhakar, E.; Qi, N. D.; Que, Y. K.; Quigley, J.; Rong, G.; Schernau, M.; Schmid, B.; Schultz, J.; Shao, Y. Y.; Shen, D. L.; Shen, H.; Shen, X. Y.; Sheng, H. Y.; Shi, H. Z.; Shi, X. R.; Smith, A.; Soderstrom, E.; Song, X. F.; Standifird, J.; Stoker, D.; Sun, F.; Sun, H. S.; Sun, S. J.; Synodinos, J.; Tan, Y. P.; Tang, S. Q.; Toki, W.; Tong, G. L.; Torrence, E.; Wang, F.; Wang, L. S.; Wang, L. Z.; Wang, M.; Wang, P.; Wang, P. L.; Wang, S. M.; Wang, T. J.; Wang, W.; Wang, Y. Y.; Whittaker, S.; Wilson, R.; Wisniewski, W. J.; Xi, D. M.; Xia, X. M.; Xie, P. P.; Xu, D. Z.; Xu, R. S.; Xu, Z. Q.; Xue, S. T.; Yamamoto, R.; Yan, J.; Yan, W. G.; Yang, C. M.; Yang, C. Y.; Yang, W.; Yao, H. B.; Ye, M. H.; Ye, S. Z.; Yu, C. S.; Yu, C. X.; Yu, Z. Q.; Yuan, C. Z.; Zhang, B. Y.; Zhang, C. C.; Zhang, D. H.; Zhang, H. L.; Zhang, J.; Zhang, J. W.; Zhang, L. S.; Zhang, S. Q.; Zhang, Y.; Zha · Physical Review Letters · 1995