Study of hot-carrier effects on power RF LDMOS device reliability

M. Gares; M.A. Belaïd; H. Maanane; M. Masmoudi; J. Marcon; K. Mourgues; Ph. Eudeline

作者M. Gares; M.A. Belaïd; H. Maanane; M. Masmoudi; J. Marcon; K. Mourgues; Ph. Eudeline
卷第47卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小298.51KB
发表时间2007
DOI10.1016/j.microrel.2007.07.064
页码1394-1399

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