Full Integration of Highly Reliable Phase Change Memory With Advanced Ring Type Bottom Electrode Contact
SHIN, J. M.; SONG, Y. J.; KANG, D. W.; JEONG, C. W.; RYOO, K. C.; PARK, J. H.; OH, J. H.; KONG, J. H.; PARK, JAE; FAI, Y.; OH, Y. T.; KIM, J. I.; LIM, D. W.; PARK, S. S.; KIM, J. H.; KIM, J. S.; KIM, Y. T.; KOH, G. H.; JEONG, G. T.; JEONG, H. S.; KIM, KINAM
- 期刊名称Integrated Ferroelectrics
- 作者SHIN, J. M.; SONG, Y. J.; KANG, D. W.; JEONG, C. W.; RYOO, K. C.; PARK, J. H.; OH, J. H.; KONG, J. H.; PARK, JAE; FAI, Y.; OH, Y. T.; KIM, J. I.; LIM, D. W.; PARK, S. S.; KIM, J. H.; KIM, J. S.; KIM, Y. T.; KOH, G. H.; JEONG, G. T.; JEONG, H. S.; KIM, KINAM
- 卷第90卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1058-4587
- 电子ISSN1607-8489
- 文件大小1741.78KB
- 发表时间2007-04-19
- DOI10.1080/10584580701249298
- 页码88-94