thin films probed by EXAFS
Soo, Y. L.; Weng, S. C.; Sun, W. H.; Chang, S. L.; Lee, W. C.; Chang, Y. S.; Kwo, J.; Hong, M.; Ablett, J. M.; Kao, C.-C.; Liu, D. G.; Lee, J. F.
- 期刊名称Physical Review B
- 作者Soo, Y. L.; Weng, S. C.; Sun, W. H.; Chang, S. L.; Lee, W. C.; Chang, Y. S.; Kwo, J.; Hong, M.; Ablett, J. M.; Kao, C.-C.; Liu, D. G.; Lee, J. F.
- 卷第76卷
- 期第13期
- 印刷ISSN1098-0121
- 电子ISSN1550-235X
- 文件大小246.30KB
- 发表时间2007-10-5
- DOI10.1103/PhysRevB.76.132404