Analysis of the relation between leakage current and dislocations in GaN-based light-emitting devices
S. W. Lee; D. C. Oh; H. Goto; J. S. Ha; H. J. Lee; T. Hanada; M. W. Cho; S. K. Hong; H. Y. Lee; S. R. Cho; J. W. Choi; J. H. Choi; J. H. Jang; J. E. Shin; J. S. Lee; T. Yao
- 作者S. W. Lee; D. C. Oh; H. Goto; J. S. Ha; H. J. Lee; T. Hanada; M. W. Cho; S. K. Hong; H. Y. Lee; S. R. Cho; J. W. Choi; J. H. Choi; J. H. Jang; J. E. Shin; J. S. Lee; T. Yao
- 卷第4卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1610-1634
- 电子ISSN1610-1642
- 文件大小271.74KB
- 发表时间2007
- DOI10.1002/pssc.200673552
- 页码37-40