Phase separation in SiGe nanocrystals embedded in SiO2 matrix during high temperature annealing

• 作者Mogaddam, N. A. P.; Alagoz, A. S.; Yerci, S.; Turan, R.; Foss, S.; Finstad, T. G.
• 卷第104卷
• 期第12期
• 印刷ISSN0021-8979
• 文件大小639.21KB
• 发表时间2008
• DOI10.1063/1.3048543