Bipolar Conduction Impact on Electrical Characteristics and Reliability of 1.2- and 3.5-kV 4H-SiC JBS Diodes

• 作者Brosselard, P.; Camara, N.; Banu, V.; Jorda, X.; Vellvehi, M.; Godignon, P.; Millan, J.
• 卷第55卷
• 期第8期
• 印刷ISSN0018-9383
• 电子ISSN1557-9646
• 文件大小1810.64KB
• 发表时间2008
• DOI10.1109/ted.2008.926636
• 页码1847-1856