Radiation damage of Ge-on-Si devices

H. Ohyama; K. Sakamoto; H. Sukizaki; K. Takakura; K. Hayama; M. Motoki; K. Matsuo; H. Nakamura; M. Sawada; M. Midorikawa; S. Kuboyama; B. De Jaeger; E. Simoen; C. Claeys

作者H. Ohyama; K. Sakamoto; H. Sukizaki; K. Takakura; K. Hayama; M. Motoki; K. Matsuo; H. Nakamura; M. Sawada; M. Midorikawa; S. Kuboyama; B. De Jaeger; E. Simoen; C. Claeys
卷第11卷
印刷ISSN1369-8001
文件大小299.97KB
发表时间2008
DOI10.1016/j.mssp.2008.08.001
页码217-220

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Radiation damage of Ge-on-Si devices