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SIMS depth profiling of Mg back-diffusion in (AlGaIn)N light-emitting diodes

Lutz Kirste; Klaus Köhler; Manfred Maier; Michael Kunzer; Markus Maier; Joachim Wagner

作者Lutz Kirste; Klaus Köhler; Manfred Maier; Michael Kunzer; Markus Maier; Joachim Wagner
卷第19卷
印刷ISSN0957-4522
电子ISSN1573-482X
文件大小310.33KB
发表时间2008-12
DOI10.1007/s10854-007-9515-y
页码176-181