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Gate-Length-Dependent Strain Effect in n- and p-Channel FinFETs

Gate-Length-Dependent Strain Effect in n- and p-Channel FinFETs

Jooyoung Song; Bo Yu; Weize Xiong; Yuan Taur

作者Jooyoung Song; Bo Yu; Weize Xiong; Yuan Taur
卷第56卷
期第3期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小238.58KB
发表时间2009
DOI10.1109/ted.2008.2011840
页码533-536

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