Reliability assessment and degradation analysis of 1.3 μm GaInNAs lasers
W. Lu; S. Bull; J. J. Lim; R. Mackenzie; S. Sujecki; A. V. Andrianov; M. Sadeghi; S. M. Wang; A. Larsson; P. Melanen; P. Sipilä; P. Uusimaa; C. T. Foxon; E. C. Larkins
- 作者W. Lu; S. Bull; J. J. Lim; R. Mackenzie; S. Sujecki; A. V. Andrianov; M. Sadeghi; S. M. Wang; A. Larsson; P. Melanen; P. Sipilä; P. Uusimaa; C. T. Foxon; E. C. Larkins
- 卷第106卷
- 期第9期
- 文件大小773.71KB
- 发表时间2009
- DOI10.1063/1.3256156