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Random Telegraph Noise Effect on the Programmed Threshold-Voltage Distribution of Flash Memories

Random Telegraph Noise Effect on the Programmed Threshold-Voltage Distribution of Flash Memories

Compagnoni, C.M.; Ghidotti, M.; Lacaita, A.L.; Spinelli, A.S.; Visconti, A.
  • 期刊名称IEEE Electron Device Letters
  • 作者Compagnoni, C.M.; Ghidotti, M.; Lacaita, A.L.; Spinelli, A.S.; Visconti, A.
  • 卷第30卷
  • 期第9期
  • 印刷ISSN0741-3106
  • 电子ISSN1558-0563
  • 文件大小118.38KB
  • 发表时间2009-09
  • DOI10.1109/led.2009.2026658
  • 页码984-986
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