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Light beam induced current measurements on ZnO Schottky diodes and MESFETs

von Wenckstern, Holger; Zhang, Zhipeng P.; Lorenz, Michael; Czekalla, Christian; Frenzel, Heiko; Lajn, Alexander; Grundmann, Marius

期刊名称MRS Proceedings
作者von Wenckstern, Holger; Zhang, Zhipeng P.; Lorenz, Michael; Czekalla, Christian; Frenzel, Heiko; Lajn, Alexander; Grundmann, Marius
卷第1201卷
电子ISSN1946-4274
文件大小950.30KB
发表时间2009-1
DOI10.1557/PROC-1201-H04-02