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DC and low frequency noise characterization of FinFET devices

DC and low frequency noise characterization of FinFET devices

K. Bennamane; T. Boutchacha; G. Ghibaudo; M. Mouis; N. Collaert

作者K. Bennamane; T. Boutchacha; G. Ghibaudo; M. Mouis; N. Collaert
卷第53卷
期第12期
印刷ISSN0038-1101
文件大小826.94KB
发表时间2009
DOI10.1016/j.sse.2009.09.032
页码1263-1267

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