Screening en assessment van psychiatrische stoornissen in Belgische gevangenissen
Veerle Soyez; Joke De Wilde; Stijn Vandevelde; Tom Vander Beken; Sven Todts; Eric Broekaert
- 作者Veerle Soyez; Joke De Wilde; Stijn Vandevelde; Tom Vander Beken; Sven Todts; Eric Broekaert
- 卷第6卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1574-1842
- 电子ISSN1875-7073
- 文件大小139.85KB
- 发表时间2010-03
- DOI10.1007/bf03089665
- 页码41-57