Parallel Electron-Hole Bilayer Conductivity from Electronic Interface Reconstruction

Pentcheva, R.; Huijben, M.; Otte, K.; Pickett, W. E.; Kleibeuker, J. E.; Huijben, J.; Boschker, H.; Kockmann, D.; Siemons, W.; Koster, G.; Zandvliet, H. J. W.; Rijnders, G.; Blank, D. H. A.; Hilgenkamp, H.; Brinkman, A.

期刊名称Physical Review Letters
作者Pentcheva, R.; Huijben, M.; Otte, K.; Pickett, W. E.; Kleibeuker, J. E.; Huijben, J.; Boschker, H.; Kockmann, D.; Siemons, W.; Koster, G.; Zandvliet, H. J. W.; Rijnders, G.; Blank, D. H. A.; Hilgenkamp, H.; Brinkman, A.
卷第104卷
期第16期
印刷ISSN0031-9007
电子ISSN1079-7114
文件大小960.76KB
发表时间2010-4-23
DOI10.1103/PhysRevLett.104.166804

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Parallel Electron-Hole Bilayer Conductivity from Electronic Interface Reconstruction