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A test points selection method for analog fault dictionary techniques

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Chenglin Yang; Shulin Tian; Bing Long; Fang Chen

作者Chenglin Yang; Shulin Tian; Bing Long; Fang Chen
卷第63卷
期第2期
印刷ISSN0925-1030
电子ISSN1573-1979
文件大小284.59KB
发表时间2010-05
DOI10.1007/s10470-009-9369-8
页码349-357

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