Materials applications of photoelectron emission microscopy
G. Xiong; R. Shao; S. J. Peppernick; A. G. Joly; K. M. Beck; W. P. Hess; M. Cai; J. Duchene; J. Y. Wang; W. D. Wei
- 作者G. Xiong; R. Shao; S. J. Peppernick; A. G. Joly; K. M. Beck; W. P. Hess; M. Cai; J. Duchene; J. Y. Wang; W. D. Wei
- 卷第62卷
- 期第12期
- 印刷ISSN1047-4838
- 电子ISSN1543-1851
- 文件大小742.60KB
- 发表时间2010-12
- DOI10.1007/s11837-010-0189-1
- 页码90-93