MODELKEY
M. Hein; S. Rotter; M. Schmitt-Jansen; P. C. von der Ohe; W. Brack; E. de Deckere; C. Schmitt; D. de Zwart; L. Posthuma; E. M. Foekema; I. Muñoz; S. Sabater; H. Segner; E. Semenzin; A. Marcomini; J. van Gils; B. van Hattum; L. A. van Vliet
- 作者M. Hein; S. Rotter; M. Schmitt-Jansen; P. C. von der Ohe; W. Brack; E. de Deckere; C. Schmitt; D. de Zwart; L. Posthuma; E. M. Foekema; I. Muñoz; S. Sabater; H. Segner; E. Semenzin; A. Marcomini; J. van Gils; B. van Hattum; L. A. van Vliet
- 卷第22卷
- 期第3期
- 印刷ISSN0934-3504
- 电子ISSN1865-5084
- 文件大小1679.19KB
- 发表时间2010-06
- DOI10.1007/s12302-010-0137-2
- 页码217-228