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ChemInform Abstract: EPR Identification of Intrinsic Defects in SiC

ChemInform Abstract: EPR Identification of Intrinsic Defects in SiC

J. Isoya; T. Umeda; N. Mizuochi; N. T. Son; E. Janzen; T. Ohshima

作者J. Isoya; T. Umeda; N. Mizuochi; N. T. Son; E. Janzen; T. Ohshima
卷第42卷
期第8期
印刷ISSN0931-7597
电子ISSN1522-2667
文件大小19.57KB
发表时间2011
DOI10.1002/chin.201108225

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