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[IEEE 2011 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Washington, DC, USA (2011.12.5-2011.12.7)] 2011 International Electron Devices Meeting -

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Elfrink, R.; Matova, S.; de Nooijer, C.; Jambunathan, M.; Goedbloed, M.; van de Molengraft, J.; Pop, V.; Vullers, R.J.M.; Renaud, M.; van Schaijk, R.
  • 作者Elfrink, R.; Matova, S.; de Nooijer, C.; Jambunathan, M.; Goedbloed, M.; van de Molengraft, J.; Pop, V.; Vullers, R.J.M.; Renaud, M.; van Schaijk, R.
  • 文件大小945.03KB
  • 发表时间2011
  • DOI10.1109/iedm.2011.6131639
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