X-ray diffraction profiles from axial nanowire heterostructures
Kaganer, V.; Wölz, M.; Brandt, O.; Geelhaar, L.; Riechert, H.
- 作者Kaganer, V.; Wölz, M.; Brandt, O.; Geelhaar, L.; Riechert, H.
- 卷第83卷
- 期第24期
- 印刷ISSN1098-0121
- 电子ISSN1550-235X
- 文件大小414.59KB
- 发表时间2011
- DOI10.1103/physrevb.83.245321