Estimation of Trapped Charge Density in SONOS Flash Memory Using a Parallel Capacitor Model

• 作者Hua-Min Li; Gang Zhang; Won Jong Yoo
• 卷第58卷
• 期第10期
• 印刷ISSN0018-9383
• 电子ISSN1557-9646
• 文件大小672.27KB
• 发表时间2011
• DOI10.1109/ted.2011.2162730
• 页码3254-3259