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Microscopic observation of lateral diffusion at Si–SiO2 interface by photoelectron emission microscopy using synchrotron radiation

Microscopic observation of lateral diffusion at Si–SiO2 interface by photoelectron emission microscopy using synchrotron radiation

N. Hirao; Y. Baba; T. Sekiguchi; I. Shimoyama; M. Honda
  • 作者N. Hirao; Y. Baba; T. Sekiguchi; I. Shimoyama; M. Honda
  • 卷第258卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0169-4332
  • 文件大小406.42KB
  • 发表时间2011
  • DOI10.1016/j.apsusc.2011.04.047
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