Three dimensional imaging using secondary ion mass spectrometry and atomic force microscopy

• 作者Yves Fleming; Tom Wirtz; Urs Gysin; Thilo Glatzel; Urs Wegmann; Ernst Meyer; Urs Maier; Jörg Rychen
• 卷第258卷
• 期第4期
• 印刷ISSN0169-4332
• 文件大小1151.45KB
• 发表时间2011
• DOI10.1016/j.apsusc.2011.09.029