Metallic and Insulating Oxide Interfaces Controlled by Electronic Correlations
Jang, H. W.; Felker, D. A.; Bark, C. W.; Wang, Y.; Niranjan, M. K.; Nelson, C. T.; Zhang, Y.; Su, D.; Folkman, C. M.; Baek, S. H.; Lee, S.; Janicka, K.; Zhu, Y.; Pan, X. Q.; Fong, D. D.; Tsymbal, E. Y.; Rzchowski, M. S.; Eom, C. B.
- 期刊名称Science
- 作者Jang, H. W.; Felker, D. A.; Bark, C. W.; Wang, Y.; Niranjan, M. K.; Nelson, C. T.; Zhang, Y.; Su, D.; Folkman, C. M.; Baek, S. H.; Lee, S.; Janicka, K.; Zhu, Y.; Pan, X. Q.; Fong, D. D.; Tsymbal, E. Y.; Rzchowski, M. S.; Eom, C. B.
- 卷第331卷
- 期第6019期
- 印刷ISSN0036-8075
- 电子ISSN1095-9203
- 文件大小1873.68KB
- 发表时间2011-02-18
- DOI10.1126/science.1198781
- 页码886-889